透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱TEM）是一種用于觀察超微結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具，它使用經(jīng)過加速和聚集的電子束來投射到非常薄的樣品上。為了確保TEM能夠生成高質(zhì)量的圖像，對(duì)樣品有著嚴(yán)格的要求。以下是一些關(guān)于TEM樣品要求的關(guān)鍵點(diǎn)：
- 樣品的厚度：TEM樣品通常需要非常薄，一般要求在100納米以下，這是因?yàn)殡娮有枰┩笜悠范汕逦膱D像。對(duì)于高分辨電鏡樣品，這個(gè)厚度甚至可以需要小于10納米。
- 樣品的類型：粉末、液體樣品均可被用作TEM觀察的樣品，但是薄膜和塊體等無法直接測(cè)試，需要通過特殊的方法如離子減薄、雙噴、FIB（聚焦離子束）、切片制樣等技術(shù)處理后才能進(jìn)行觀測(cè)。
- 樣品狀態(tài)：樣品必須是固體且無毒，無放射性，無污染，無磁性，并且不含水分或易揮發(fā)物。含有有機(jī)物的樣品可能不適合，因?yàn)橛袡C(jī)物在高壓下不穩(wěn)定，容易被電子束破壞。
- 樣品的制備方法：根據(jù)樣品的不同，制備方法也會(huì)有所不同。例如，粉末樣品可以通過研磨法或者樹脂包埋法來制備；塊狀樣品可能需要通過電解減薄或離子減薄來獲得足夠薄的區(qū)域以供觀察。
- 載網(wǎng)與支持膜的選擇：TEM樣品常常放在直徑為3mm的200目載網(wǎng)上并加上支持膜，如方華支持膜、碳支持膜、微柵等。選擇哪種類型的支持膜取決于待觀察的樣品以及所使用的溶劑類型。
準(zhǔn)備TEM樣品是一項(xiàng)精細(xì)的工作，需要嚴(yán)格按照操作規(guī)程執(zhí)行，以確保獲得最佳的成像結(jié)果。在實(shí)際操作過程中，建議與經(jīng)驗(yàn)豐富的專業(yè)人士合作，以確保樣品的正確制備和測(cè)試。
