詳細(xì)步驟與技術(shù)要點(diǎn)解析
- 制樣概述
- 透射電子顯微鏡簡(jiǎn)介
- TEM樣品要求
- 制樣重要性
- 樣品選擇
- 常見(jiàn)樣品類型
- 樣品選擇原則
- 樣品固化
- 冷凍固化法
- 溶劑固化法
- 等離子體固化法
- 樣品切片
- 切片工具介紹
- 切片厚度控制
- 切片偽影預(yù)防
- 樣品轉(zhuǎn)移
- 導(dǎo)電基片選擇
- 樣品轉(zhuǎn)移方法
- 避免雜質(zhì)和氣泡
- 樣品超薄化
- 機(jī)械薄化法
- 離子薄化法
- 電解雙噴法
- 總結(jié)與展望
- TEM制樣方法綜述
- 未來(lái)研究方向
