TEM是”Transmission Electron Microscopy”（透射電子顯微鏡）的縮寫。這是一種利用電子束作為”光源”的顯微鏡，其工作原理與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相似，但使用的是電子而非光子。

透射電子顯微鏡可以提供原子級別的高分辨率圖像，使研究者能夠觀察到細(xì)胞結(jié)構(gòu)、病毒和甚至單個(gè)分子的細(xì)節(jié)。因此，它在生物學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

TEM的操作需要高度的技術(shù)專長，且設(shè)備昂貴，通常只在專門的實(shí)驗(yàn)室中才能見到它的身影。