透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡稱TEM），是一種與光學(xué)顯微鏡和掃描電子顯微鏡（SEM）原理相似，但使用電子束而非光子作為“光源”進行成像的顯微鏡。在這種顯微鏡中，電子束通過超細樣品，并在樣品后的探測器上形成圖像。由于電子波長比可見光短很多，因此TEM可以達到比光學(xué)顯微鏡高得多的分辨率，是觀察微觀結(jié)構(gòu)和進行元素分析的重要工具。

TEM廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、材料科學(xué)以及生命科學(xué)等領(lǐng)域。例如在材料科學(xué)中，研究人員利用它可以觀察晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、相變等微小的結(jié)構(gòu)細節(jié)；在生命科學(xué)中，則用于細胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)的觀察、病毒顆粒的分析等。

透射電子顯微鏡是一種強大的科研工具，為人類探索微觀世界提供了重要的手段。