TEM是英文單詞“Transmission Electron Microscopy”的縮寫，意為透射電子顯微鏡。它是一種利用電子束透過(guò)超薄樣品來(lái)獲得內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡相比，透射電子顯微鏡具有更高的分辨率和放大倍數(shù)，因此被廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究與分析。

在生物學(xué)領(lǐng)域，TEM常用于觀察病毒、細(xì)菌等微生物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)，有助于揭示其形態(tài)特征和功能機(jī)制。在材料科學(xué)中，TEM可以幫助研究人員深入了解材料的微觀組織結(jié)構(gòu)，從而優(yōu)化材料性能。此外，TEM還可用于納米粒子和納米結(jié)構(gòu)的表征，對(duì)于納米科技的發(fā)展具有重要意義。

透射電子顯微鏡（TEM）作為一種高分辨率顯微成像技術(shù)，為科學(xué)家們提供了一種強(qiáng)有力的工具，使他們能夠深入研究各種微觀世界的奧秘。